Электронный микроскоп SU9000

Источник излучения холодного поля идеально подходит для получения изображений с высоким разрешением при небольшом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология пистолета CFE обеспечивает идеальный FE-SEM с превосходной яркостью и стабильностью луча, обеспечивая получение изображений с высоким разрешением и высококачественный элементный анализ. Уникальный дизайн объектива имеет возможность EELS и дифракции.

Подробную информацию о товаре просим уточнять у продавца, связавшись с ним по указанному выше телефону или посредством электронного запроса через форму обратной связи.